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Charakterisierung und Qualitätssicherung
Datum: 25.4.2012
Veranstaltungsart: Seminar
Verlustmechanismen, Charakteristika und Zusammenhänge Messmethoden der Wafer- / Solarzellencharakterisierung (Messprinzipien / Anwendungsbeispiele ausgewählter Methoden) Bestimmung von Waferparameter Bestimmung von Rekombinationsparameter Bestimmung von Widerstandsparametern Bestimmung von optischen Parametern Bestimmung von Solarzellenparametern Anwendung der Methoden in der Produktionslinie Trouble-Shooting
Kontakt:
Stefanie Hermann Emmy-Noether-Str. 2 79110 Freiburg
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